PAT（Part Average Testing）表(biao)示零(ling)件(jian)平(ping)均(jun)测(ce)试(shi)，是(shi)一种应(ying)用于(yu)ATE中(zhong)提高元器(qi)件(jian)品(pin)质(zhi)和可靠(kao)性(xing)的(de)方法，根据(ju)工(gong)艺生(sheng)产(chan)能力(li)的不(bu)同而(er)在(zai)测(ce)试项(xiang)中(zhong)加(jia)入更严(yan)格(ge)的测(ce)试范(fan)围。

    PAT功(gong)能可分(fen)为(wei)静态(tai)与动态(tai)两(liang)类。静态PAT通常应用于(yu)CP及WLCSP量(liang)产环节(jie)，一整片(pian)或(huo)一(yi)个(ge)批(pi)次(ci)晶圆完成(cheng)测试(shi)后对数据统(tong)计并实(shi)施PAT；而DPAT，亦称(cheng)动态(tai)DPAT，通(tong)常应(ying)用于(yu)FT量产(chan)环节，实(shi)时对数据实(shi)施(shi)PAT。

您可从(cong)本(ben)文(wen)了(le)解(jie)到(dao)：

1. DPAT设(she)定界面

2. 案例(li)分析